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MOS ICs & Technology App couvrant des cours, des conférences, des notes et des livres pour les étudiants.
Notes sur les circuits intégrés et la technologie MOS (circuit intégré) pour un apprentissage facile et rapide. Cette application est en fait un manuel, qui couvre tous les sujets du sujet. Vous pouvez considérer cette application comme une note que les professeurs guident dans une salle de classe.
Vous pouvez très facilement réussir et réussir vos examens et vos entretiens si vous avez cette application sur votre téléphone mobile et en donner un aperçu pendant quelques jours.
Il couvre 114 sujets de MOS ICs & Technology en détail. Ces 114 sujets sont divisés en 8 unités
Certains des sujets abordés dans cette application sont:
1. Loi de Moore.
2. Comparaison des technologies disponibles
3. Transistors MOS de base
4. Action Transistor en mode amélioration:
5. Fabrication NMOS:
6. Fabrication CMOS - P-WELL PROCESS
7. PROCÉDÉ DE FABRICATION DE N-PUITS CMOS:
8. Procédé de fabrication CMOS-Twin-Tub
9. Technologie bi-CMOS: - (CMOS bipolaire):
10. Production de masques à faisceau électronique
11. Introduction au transistor MOS
12. Relation entre Vgs et Ids, pour un Vds fixe
13. Équations MOS (équations DC de base):
14. Effets de second ordre
15. CARACTÉRISTIQUES DU CMOS INVETER
16. Caractéristiques de l'onduleur
17. Dérivation graphique des caractéristiques CC de l'onduleur
18. marge de bruit
19. Onduleurs à charge statique MOS
20. Portes de transmission
21. Inverseur Tristate
22. Diagrammes en bâtons - Encodages pour le processus NMOS
23. Codages pour le processus CMOS
24. Encodage pour BJT et MOSFET
25. Style de conception NMOS et CMOS
26. Règles de conception - CI MOS et technologie
27. Via
28. Règles de conception CMOS lambda
29. Processus CMOS Orbit 2um
30. Estimation de la résistance.
31. Résistance de la feuille des transistors mos
32. Estimation de la capacité
33. Retard
34. Retards de l'onduleur
35. Estimation formelle du retard
36. Conduite de grande charge capacitive
37. valeur optimale de f
38. Super tampon
39. Pilotes Bicmos
40. Délai de propagation
41. Autres sources de capacité
42. Choix de couches
43. Mise à l'échelle de plusieurs appareils
44. Conception physique de base un aperçu
45. Conception physique de base un aperçu
46. Schéma et disposition des portes de base-Inverter Gate
47. Schéma et disposition des portes de base - porte NAND et NOR
48. Porte de transmission
49. Conception de cellule CMOS standard
50. Optimisation de la présentation pour la performance
51. Directives générales de mise en page
52. Logique BICMOS
53. Logique pseudo-nmos
54. Autres variantes de pseudo nmos - Logique multi-drain et Logique groupée
55. Autres variations de pseudo nmos - Logique dynamique du cmos
56. Autres variantes de pseudo nmos - LOGIQUE CMOS CLOCKED (C2MOS)
57. Logique de dominos CMOS
58. Logique de commutation de tension en cascade
59. logique du transistor de passage
60. Structures de circuit logique de la technologie CMOS
61. Mise à l'échelle des circuits MOS
62. Mise à l'échelle technologique
63. Carte routière technologique internationale des semi-conducteurs (ITRS)
64. Modèles de mise à l'échelle et facteurs de mise à l'échelle pour les paramètres de périphérique
65. Implications de la mise à l'échelle
66. Problèmes d'interconnexion
67. Rayon accessible
68. Puissance dynamique et statique
69. Productivité et limites physiques
70. Limitations de la mise à l'échelle
71. Dopage de substrat
72. Largeur d'épuisement
73. Limites de miniaturisation
74. Limites d'interconnexion et de résistance de contact
75. Limites dues aux courants inférieurs au seuil
76. Limites dues aux courants inférieurs au seuil
77. Système
78. Flux de conception VLSI
79. 3 approche de conception structurée
80. régularité
81. MOSFET comme commutateur
82. Connexion parallèle et en série de commutateurs
83. ONDULEUR CMOS
84. Conception de la porte NAND
85. Conception de la porte NOR
86. Propriétés CMOS
87. portes complexes
88. portes complexes AOI
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Tous vous un très heureux apprentissage
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